Презентация на тему "Физические методы исследования материалов(для мм и нт)"

Содержание

• 
  Слайд 1

  Физические методы исследования материалов(для мм и нт)

  Батаев Иван Анатольевич Кафедра материаловедения в машиностроении (ауд. V-267)

• 
  Слайд 2

  Общая информация по курсу

  ~17 лекций 4 лабораторные работы 4 практические работы РГЗ Дифференцированный зачёт

• 
  Слайд 3

  Список лекций

  Вводная лекция . Классификация методов исследования материалов Обзор микроскопических методов исследования. Оптическая микроскопия. Растровая электронная микроскопия. Спектральные методы анализа. Элементарные основы кристаллографии. Понятие решётки. Индексы Миллера. Индицирование плоскостей решётки. Стереографические проекции. Основы дифракции. Устройство просвечивающего электронного микроскопа. Обратное пространство и расшифровка картин дифракции. Запрещённые рефлексы. Дифракция от поликристаллов и аморфных материалов. Адсорбционный и дифракционный контраст. Анализ структур. Специальные методы исследования. Мёссбауровская спектроскопия. Ионно-полевая микроскопия. Рентгеновская фотоэлектронная микроскопия.

• 
  Слайд 4

  Задание для РГЗ

  Сделать расчёты межплоскостных расстояний, углов между направлениями и плоскостями для кристаллов различных классов (сингоний)(Задача 1-3). Расчёты выполнить с использование метрического тензора прямого и обратного пространств. Рассчитать картину дифракции электронов для заданного кристалла в заданном направлении

• 
  Слайд 5

  Полезные ссылки

  http://www2.physics.ox.ac.uk/sites/default/files/CrystalStructure_fullnotes2.pdf http://rdt45m.narod.ru/tenzor_html/tenzor1_2.htm http://vk.com/MaterialsCharacterization

• 
  Слайд 6
  
• 
  Слайд 7

  Типичные картины дифракции электронов

• 
  Слайд 8

  Оформление РГЗ:

  1. Титульный лист 2. Содержание (с указанием страниц) 3. Задача 1 4. Задача 2 5. Задача 3 6. Задача 4 7. Заключение 8. Список литературы в следующем формате: 1. ФИО. Название статьи или книги.- Год издания.- Страницы (ВНИМАНИЕ!!! В тексте работы ссылки на литературу указывать в квадратных скобках)  

• 
  Слайд 9

  Критерии оценки работы:

  Правильность выполнения Аккуратность оформления (работа должна быть читаема) Сдача в срок (до 15 недели) 16-17 неделя – защита РГЗ Не принимаются РГЗ в которых: Отсутствуют выкладки Перепутан вариант Плагиат

• 
  Слайд 10

  Литература

  Общая информация: Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов методы исследования и контроля Батаев В.А. и др. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей Оптика: Р. Фейнман. Фейнмановские лекции по физике. Том 3. Излучение. Волны. Кванты. Eugene Hecht. Optics. Спектральные методы анализа: A.J. Garratt-Reed and D.C. Bell. Energy-Dispersive X-Ray Analysis in the Electron Microscope К. Хаускрофт, Э. Констебл. Современный курс общей химии. Том 1. Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Электронная микроскопия: Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении Хирш П. и др. Электронная микроскопия тонких кристаллов Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.  Brent Fultz, James M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of Materials

• 
  Слайд 11

  Классификация методов исследования материалов

  Методы исследования материалов Методы получения изображения Методы определения химического состава Методы определения кристаллической структуры Методы исследования свойств Микроскопия и др Методы спектрального анализа и др Дифракционные методы исследования Не рассматриваются в рамках данного курса

• 
  Слайд 12

  Методы получения изображения

• 
  Слайд 13

  Методы получения изображения (электронная микроскопия)

• 
  Слайд 14

  Методы получения изображения (атомно-силовая микроскопия)

• 
  Слайд 15

  Методы определения химического состава

• 
  Слайд 16

  Методы определения элементного состава

• 
  Слайд 17
  
• 
  Слайд 18

  Методы определения кристаллической структуры

• 
  Слайд 19
  

  n = 2d sin

• 
  Слайд 20
  
• 
  Слайд 21
  
• 
  Слайд 22
  
• 
  Слайд 23

  Концепция исследования материалов в общем виде