Содержание
-
Распространениеволн
Часть 2
-
Дифракция Френеля
S – точечный источник света P – точка наблюдения Определим, что будет наблю- даться в т.P.
-
Разобьем ВП на кольцевые зоны так, чтобы расстояние от точки P до их краев отличались на λ/2 – зоны Френеля: Колебания сосед- них зон находятся в противофазе и, поэтому, в т. Р они будут частично гасить друг друга.
-
Вычислим радиусы зон Френеля
-
-
– высота сферического сегмента, занимаемого зоной с номером m – радиус m-ой зоны Френеля Площадь сферического сегмента:
-
Площадь m-ой зоны: т.е. площади зон Френеля практически одинаковы и энергия, переносимая каждой зоной в отдельности, почти одинакова
-
Вычислим амплитуду в т.P, которая получается при сложении всех зон и учтем, что зоны находятся в противофазе: – действие всего фронта
-
Например, радиус первой зоны при a =∞ (плоский в.ф.), b = 1 м получаем r1 = 0.8 мм. Следовательно, свет от ист. Sк точке P распространяется (как бы) в узком канале, ограниченном первой зоной – т.е. практически прямолинейно. При открытии только первой зоны: Если отверстие в экране открывает и вторую зону, то интенсивность в т.Р падает практически до нуля.
-
Зонная пластинка
-
Фазовая зонная пластинка
обычная ЗП (амплитудная) модиф. ЗП (фазовая)
-
Дифракция рентгеновских лучей
Естественные 3х мерные периодические структуры – кристаллы (d = 1–4 Å = = 0.1–0.4 нм) λвид~ 500 нм λрент~0.01–100 нм
-
Пусть рентгеновское излучение падает на пространственную решетку. Ю.В.Вульф и англ.физики Брэгги (1913) предложили способ расчета дифракционной картины Под действием ЭМВ электроны вещества приобретают ускорение и излучают вторичные волны на этой частоте.
-
Разобьем кристалл на ряд параллельных плоскостей (одним из многих способов) d – расстояние м/у атомными плоскостями θ– угол скольжения, λ – длина волны
-
Разность хода между лучами, отраженными от двух соседних плоскостей:
-
Условие наилучшего отражения: – формула Вульфа–Брэгга
-
Применение явлениядифракции света на кристаллах
1) В рентгеновской спектроскопии для исследования характеристик излучения 2) В рентгеноструктурном анализе для изучения внутренней структуры кристаллов
-
Если на одиночный кристалл направить пучок монохроматического рентгеновского излучения, то отражение появится только при строго определенных ориентировках кристалла
-
Метод порошков
Если взять поликристаллический образец (много кристалликов, спрессованных или спеченных), то для любого направления находится большое количество правильно ориентированных атомных плоскостей.
-
По порядку следования линий, углам и интенсивности устанавливают тип и параметры атомной решетки кристалла
Нет комментариев для данной презентации
Помогите другим пользователям — будьте первым, кто поделится своим мнением об этой презентации.