Презентация на тему "Современная зондовая микроскопия" 9 класс

Содержание

• 
  Слайд 1

  Современная зондовая микроскопия

• 
  Слайд 2

  Теоретические основы

  Обобщенная структурная схема сканирующего зондового микроскопа

• 
  Слайд 3

  Сканирующие зондовые микроскопы

  Общей чертой всех сканирующих зондовых микроскопов является способ получения информации о свойствах исследуемой поверхности. Микроскопический зонд сближается с поверхностью до установления между зондом и образцом баланса взаимодействий определенной природы, после чего осуществляется сканирование.

• 
  Слайд 4

  Немного истории…

  STM изображение поверхности монокристаллического кремния. Реконструкция 7 х 7 Цюрих Герхард Биннинг Хайнрих Рёрер

• 
  Слайд 5

  Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)

  а - промышленная консоль; б - острие иглы. а б Схема работы сканирующего туннельного микроскопа

• 
  Слайд 6

  Режимы работы СТМ:

  а - в режиме постоянной высоты; б - в режиме постоянного тока а б

• 
  Слайд 7

  СВЕРХВЫСОКОВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП GPI SРM-300

  .- сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп. Области применения: химические и фотохимические реакции, катализ, напыление, полупроводниковые технологии, адсорбция, модификация поверхности ионами, электронами и другими частицами, нанотехнология, атомные манипуляции.

• 
  Слайд 8

  Атомно-силовой микроскоп

  Важнейшей составляющей AСM (Атомно-силового микроскопа) являются сканирующие зонды – кантилеверы, свойства микроскопа напрямую зависят от свойств кантилевера. Изображение кантилевера NCS16 полученное в лаборатории МГУ физического факультета. Частота собственных колебаний зонда

• 
  Слайд 9

  Атомно-силовой электронный микроскоп (АСМ)

  В нем регистрируют изменения силы притяжения иглы к поверхности от точки к точке. Деформацию кантилевера регистрируют по отклонению лазерного луча, падающего на его тыльную поверхность, или с помощью пьезорезистивного эффекта, возникающего в самом кантилевере при изгибе; 

• 
  Слайд 10
  

  Зависимость силы межатомного взаимодействия от расстояния между острием и образцом

• 
  Слайд 11
  
• 
  Слайд 12

  Атомно-силовой микроскоп

• 
  Слайд 13

  Возможности АСМ

  Атомно-силовой микроскоп успешно осваивает и профессию литографа. Локальное окисление (анодирование) поверхности, производимое острием атомно-силового или туннельного микроскопа, позволяет формировать различные наноструктуры.

• 
  Слайд 14

  Возможности СТМ

• 
  Слайд 15

  Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)

  Схема ближнепольного оптического микроскопа

• 
  Слайд 16
  

  Картина дифракции, возникающая при фокусировании света объективом обычного оптического микроскопа. Изображение получено с помощью СБОМ (Интегра Солярис, НТ-МДТ), распределение интенсивности оптического сигнала кодировано псевдоцветом (шкала показана справа).

• 
  Слайд 17

  Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии